В ПО АТоМ-АТЕ тест-план это набор тестов тестируемых изделий, собранных в определенной последовательности. В зависимости от поставленной задачи тест-план может включать:
- условия классификации изделий по входным параметрам;
- условия классификации изделий по выходным параметрам;
- условия разбраковки изделий в диапазоне значений, определенном двумя границами;
- условия разбраковки изделий в нескольких диапазонах значений величины.
Условия классификации и разбраковки изделий определяются нормами. Классификация по входному параметру представляет собой несколько тест-планов с изменяемым значением входного параметра в каждом тест-плане. Классификация по выходному параметру представляет собой процесс определения отношения параметра к определенной группе/группам для каждого из выходных параметров теста. Возможен вариант классификации одновременно как по входным так и по выходным параметрам.
Количество тестов в тест-плане не ограничено, но не менее одного. Тест-план разрабатывается для конкретного изделия и не может быть использован для разных изделий. Количество тест-планов, разрабатываемых для тестирования одного изделия не ограничено.